手持回路電阻儀市場(chǎng)推廣性1 簡(jiǎn)介
本手持式回路電阻測(cè)試儀是一款新型產(chǎn)品，產(chǎn)品體積小巧，手持式操作，電池供電，便于攜帶。
產(chǎn)品主要應(yīng)用于開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)的接觸電阻和其它微歐電阻的測(cè)量，測(cè)試速度快、準(zhǔn)確度高。
手持回路電阻儀市場(chǎng)推廣性2 包裝內(nèi)容
收到貨運(yùn)包裝箱后，打開(kāi)包裝箱并檢查是否有損壞。
如果貨運(yùn)包裝箱已損壞，或襯墊材料有壓痕，請(qǐng)通知貨運(yùn)公司和離您*近的本公司銷售部。
請(qǐng)檢查您是否在手持式回路包裝中收到下列物品：
√1臺(tái)手持式測(cè)試儀
√1套測(cè)試線（紅、黑各一組）
√1個(gè)充電器
√1份用戶手冊(cè)
√1份合格證及出廠測(cè)試報(bào)告
√1個(gè)外置打印機(jī)（選配）
√1只標(biāo)準(zhǔn)電阻器（選配）
手持回路電阻儀市場(chǎng)推廣性3 功能特點(diǎn)
鋰電池供電，一次充電可連續(xù)進(jìn)行600次以上測(cè)試，測(cè)試過(guò)程簡(jiǎn)單、方便。
輸出電流*大到100A，多檔電流可選，測(cè)試范圍寬。
100A測(cè)試時(shí)，*長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間可達(dá)60秒，滿足現(xiàn)場(chǎng)各種應(yīng)用。
量程寬、精度高，100A時(shí)可達(dá)2000μΩ。
具有開(kāi)路保護(hù)、過(guò)熱保護(hù)等完善的保護(hù)功能。
5.6寸超大工業(yè)級(jí)高亮度彩色液晶屏，在強(qiáng)陽(yáng)光下顯示依然清晰可見(jiàn)。
配備外置式打印機(jī)，便于數(shù)據(jù)打印。
具有本機(jī)存儲(chǔ)和優(yōu)盤(pán)存儲(chǔ)，方便數(shù)據(jù)保存。
手持回路電阻儀市場(chǎng)推廣性4 技術(shù)指標(biāo)
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測(cè)量范圍
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輸出電流
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100A、80A、50A、30A
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測(cè)量范圍
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100A 0～2000uΩ
80A 0～5mΩ
50A 0～10mΩ
30A 0～20mΩ
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技術(shù)指標(biāo)
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準(zhǔn)確度
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±（讀數(shù)×0.5%+1 uΩ）
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分辨率
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0.1 uΩ
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顯示位數(shù)
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四位半
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試驗(yàn)電源
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恒流限壓，約2V
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輸入電壓
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*大5V
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測(cè)量時(shí)間
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快速、10～60秒可選
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測(cè)試次數(shù)
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大于600次（充滿電、快速測(cè)量模式）
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測(cè)試線
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電阻小于10 mΩ
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使用條件及外形
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工作電源
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內(nèi)置鋰電池或外置充電器，充電器輸入AC 100～240V,50HZ/60HZ
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充電電壓
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12.6V
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充電電流
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≤3A
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充電時(shí)間
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約3小時(shí)
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自動(dòng)關(guān)機(jī)
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5分鐘誤操作自動(dòng)關(guān)機(jī)
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主機(jī)重量
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1.7KG（不含測(cè)試線）
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主機(jī)尺寸
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246×156×62mm(長(zhǎng)×寬×高)
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使用溫度
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-10℃～50℃
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相對(duì)濕度
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≤90%（不結(jié)露）
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手持回路電阻儀市場(chǎng)推廣性5 調(diào)整腕帶
為了更好地抓握，可剝開(kāi)帶子，調(diào)整粘扣帶，如下圖所示。
6 對(duì)電池充電
在**使用手持式儀器之前或長(zhǎng)時(shí)間存放之后或電池電量低時(shí)，請(qǐng)使用其隨附的充電器對(duì)電池至少充電3小時(shí)。電池完全充滿后，充電器指示燈由紅色變?yōu)槌掷m(xù)綠色。
7 傾斜手持式測(cè)試儀
為了在操作期間方便拿取儀器或露出側(cè)面接口，可使手持式測(cè)試儀傾斜，如下圖所示。
8 產(chǎn)品外觀
頂視圖
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功能模塊
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說(shuō)明
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I+、 I-
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電流輸出接線柱，*大輸出100A。
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U+、U-
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電壓輸入插孔，*大輸入5V。
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顯示屏
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5.6寸超大工業(yè)級(jí)高亮度彩色液晶屏，顯示操作菜單和測(cè)試結(jié)果。
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按鍵
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操作儀器用。 “↑↓”為“上下”鍵，選擇移動(dòng)或修改數(shù)據(jù)；“←→”為“左右”鍵，選擇移動(dòng)或修改數(shù)據(jù)；“確認(rèn)”鍵，確認(rèn)當(dāng)前操作；“取消”鍵，放棄當(dāng)前操作。
儀器電源鍵。短按打開(kāi)電源，長(zhǎng)按關(guān)閉電源。如果沒(méi)有按鍵操作，5分鐘后儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。
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RS232接口
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連接外置打印機(jī)。
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充電接口
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使用儀器專用充電器進(jìn)行充電。
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USB接口
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外接優(yōu)盤(pán)用，用來(lái)存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，請(qǐng)使用FAT或FAT32格式的優(yōu)盤(pán)；在存儲(chǔ)過(guò)程中，嚴(yán)禁撥出優(yōu)盤(pán)。
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9 操作使用說(shuō)明
測(cè)試接線
將兩個(gè)測(cè)試鉗夾到開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)或試品兩端，I+/U+端子連接紅色測(cè)試線，I-/U-端子連接黑色測(cè)試線，其中粗線插片連接電流接線柱I+/I-，細(xì)線彈棒插入電壓接線柱U+/U-。
必須使用儀器配套的專用低阻測(cè)試線，電流接線柱要擰緊，測(cè)試夾要牢固夾持，以降低引線電阻，節(jié)省電池電量。
如果測(cè)試線接觸不佳，電流不能達(dá)到設(shè)定值，儀器會(huì)停止測(cè)試并報(bào)警。
試品接地
在帶電環(huán)境下，必須要保證試品一端已經(jīng)接地。
智能電量管理
儀器在長(zhǎng)時(shí)間未操作時(shí)，自動(dòng)關(guān)機(jī)以節(jié)省電量；儀器帶低電量充電提示功能、過(guò)放保護(hù)功能。
打印機(jī)使用說(shuō)明
打印機(jī)按鍵和打印機(jī)指示燈是一體式。打印機(jī)上電后，正常時(shí)指示燈為常亮，缺紙時(shí)指示燈閃爍。按一次按鍵，打印機(jī)走紙。
打印機(jī)換紙：扣出旋轉(zhuǎn)扳手，打開(kāi)紙倉(cāng)蓋；把打印紙裝入，并拉出一截(超出一點(diǎn)撕紙牙齒)，注意把紙放整齊，紙的方向?yàn)橛兴幰阂幻?/span>(光滑面)向上；合上紙倉(cāng)蓋,打印頭走紙軸壓齊打印紙后稍用力把打印頭走紙軸壓回打印頭，并把旋轉(zhuǎn)扳手推入復(fù)位。
使用操作
所有測(cè)試線接好以后，打開(kāi)儀器電源，儀器初始化后進(jìn)入“主菜單”屏，如下圖所示。
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編號(hào)
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說(shuō)明
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1
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顯示日期時(shí)間。
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2
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顯示外設(shè)和當(dāng)前操作狀態(tài)。
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插入優(yōu)盤(pán)時(shí)顯示此圖標(biāo)。
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插入打印機(jī)時(shí)顯示此圖標(biāo)。
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有藍(lán)牙設(shè)備連接時(shí)顯示此圖標(biāo)。
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進(jìn)行存儲(chǔ)信息查詢時(shí)顯示此圖標(biāo)。
儀器溫度過(guò)高時(shí)顯示此圖標(biāo)。
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3
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儀器電量顯示，電量低時(shí)此圖標(biāo)閃爍。
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4
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儀器主菜單操作區(qū)，通過(guò)方向鍵選擇相應(yīng)功能，按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入相應(yīng)功能菜單。
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針對(duì)開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)等低阻試品進(jìn)行回路電阻測(cè)試。
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查詢測(cè)試過(guò)程中保存的各組數(shù)據(jù)；在存儲(chǔ)查詢屏可以進(jìn)行數(shù)據(jù)打印、轉(zhuǎn)存優(yōu)盤(pán)等操作。
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設(shè)置儀器的日期、時(shí)間。
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需要密碼操作，不對(duì)用戶開(kāi)放。
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5
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SV：顯示儀器當(dāng)前的軟件版本號(hào)；
HV：顯示儀器當(dāng)前的硬件版本號(hào)。
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選擇“回路測(cè)試”，按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入“回路測(cè)試”屏，如下圖。
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編號(hào)
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說(shuō)明
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1
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參數(shù)設(shè)置區(qū)域，通過(guò)“左右”鍵選擇這些參數(shù)，當(dāng)這些參數(shù)被選定后，按“上下”鍵修改對(duì)應(yīng)的參數(shù)。
修改編號(hào)時(shí)，需要選中后按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入修改狀態(tài)，按“左右”鍵移動(dòng)光標(biāo)，按“上下”鍵修改，按“確認(rèn)”鍵或“取消”鍵完成修改。
 小提示：光標(biāo)在“電流”或“時(shí)間”選項(xiàng)，可按“確認(rèn)”鍵將光標(biāo)快速跳轉(zhuǎn)到 按鈕啟動(dòng)測(cè)量。
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電流
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設(shè)置本次試驗(yàn)的輸出電流，可選擇30A/50A/80A/100A。
測(cè)試時(shí)如果回路電阻超過(guò)對(duì)應(yīng)檔位測(cè)量范圍，電流可能達(dá)不到設(shè)置電流，測(cè)試時(shí)應(yīng)使用儀器配套的低阻測(cè)試線，并旋緊接線柱并夾緊測(cè)試鉗，以減小引線電阻。
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時(shí)間
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設(shè)置本次試驗(yàn)的測(cè)試時(shí)間，可選擇“快速”或“10/20/30/40/50/60秒”。
“快速”：?jiǎn)?dòng)后快速測(cè)試，測(cè)量結(jié)束后顯示數(shù)據(jù)。
 “10～60秒”：?jiǎn)?dòng)后達(dá)到設(shè)置時(shí)間后停止測(cè)試，測(cè)試過(guò)程中可隨時(shí)按“確認(rèn)”鍵或“取消”鍵停止測(cè)試。
小提示：建議使用“快速”測(cè)量以節(jié)省電池電量
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編號(hào)
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設(shè)置本次試驗(yàn)的試品編號(hào)。
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2
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主顯示區(qū)，顯示被測(cè)的回路電阻值。*小分辨率0.1μΩ，顯示位數(shù)四位半，單位μΩ/mΩ自動(dòng)切換。
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3
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副顯示區(qū)，顯示被測(cè)試品的電壓值和電流值和測(cè)試時(shí)間。
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U
I
t
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顯示U+/U-間的電壓，單位mV/V自動(dòng)切換。
顯示I+/I-間的電流，單位mA/A自動(dòng)切換。
顯示實(shí)際測(cè)試用時(shí)間，單位秒。
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4
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光標(biāo)在此處時(shí)，按“確認(rèn)”鍵啟動(dòng)測(cè)量。
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在測(cè)試過(guò)程中，儀器如果檢測(cè)到測(cè)試線接觸不佳故障時(shí)，彈出故障提示框報(bào)警，并停止測(cè)量。
儀器如果檢測(cè)到內(nèi)部溫度過(guò)高時(shí)，彈出故障提示框報(bào)警，但不停止測(cè)量。
“測(cè)試結(jié)果”屏如下圖。按“左右”鍵移動(dòng)光標(biāo)，按“確認(rèn)”鍵執(zhí)行所選操作。
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編號(hào)
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說(shuō)明
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繼續(xù)按當(dāng)前設(shè)置參數(shù)進(jìn)行回路電阻測(cè)量。
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將當(dāng)前的測(cè)試結(jié)果通過(guò)連接外置打印機(jī)打印。
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將當(dāng)前的測(cè)試結(jié)果保存到本機(jī)或保存到外接優(yōu)盤(pán)。
 小提示：保存到優(yōu)盤(pán)的數(shù)據(jù)為WORD格式，可直接用OFFICE打開(kāi)進(jìn)行編輯或打印。
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本信息如有更改，恕不另行通知。
2018年11月1日，第1版。
北京青年報(bào)記者昨日從清華大學(xué)獲悉，清華近日在建設(shè)新土木館大樓的工程項(xiàng)目過(guò)程中發(fā)現(xiàn)古墓群，共有古代墓葬95座，目前已經(jīng)發(fā)掘完成16座，初步判斷為明清時(shí)期的平民墓葬。
據(jù)介紹，發(fā)現(xiàn)古墓的地方就在清華校園內(nèi)人流密集的第六教學(xué)樓北側(cè)，那里正在建設(shè)新土木館大樓。根據(jù)相關(guān)法律法規(guī)，新建項(xiàng)目需進(jìn)行考古勘探工作。應(yīng)清華大學(xué)申請(qǐng)，今年4月2日至14日，北京市文物局組織市文物研究所對(duì)清華大學(xué)新土木館項(xiàng)目占地范圍內(nèi)開(kāi)展了考古勘探工作，共發(fā)現(xiàn)古代墓葬95座。5月27日起，市文物研究所開(kāi)始對(duì)前期勘探發(fā)現(xiàn)的古代墓葬進(jìn)行考古發(fā)掘工作，目前已發(fā)掘完成墓葬16座，初步判斷為明清時(shí)期平民墓葬。目前考古發(fā)掘工作正在進(jìn)行中，具體考古價(jià)值還有待確認(rèn)。
昨天古墓開(kāi)始進(jìn)行考古發(fā)掘的消息傳出后，就在清華師生的微信朋友圈中刷了屏，很多同學(xué)趁中午和傍晚的休息時(shí)間趕去現(xiàn)場(chǎng)觀看，緊鄰的第六教學(xué)樓里也有很多同學(xué)在窗口眺望和拍照。“很大一片，現(xiàn)場(chǎng)可以看到探方和墓坑中的人骨，但好像沒(méi)看到有陪葬品。”一位看了現(xiàn)場(chǎng)的研究生告訴北青報(bào)記者。
清華校園歷史上是一座清代**園林，分為東、西兩園——工字廳以西部分稱近春園，以東稱清華園。1860年英法聯(lián)軍焚毀近春園，清華園幸免。清外務(wù)部為游美學(xué)務(wù)處上奏獲得此地建設(shè)肄業(yè)館，改名為清華學(xué)堂，1911年開(kāi)學(xué)，1913年清華學(xué)校將近春園等地并入，發(fā)展成為今天的清華大學(xué)。
北青報(bào)記者了解到，這不是清華園內(nèi)**次發(fā)現(xiàn)古墓，過(guò)去也曾在多次校內(nèi)施工中發(fā)現(xiàn)古墓。上世紀(jì)50年代建設(shè)靜力試驗(yàn)臺(tái)、90年代興建大型結(jié)構(gòu)實(shí)驗(yàn)室時(shí)，都曾發(fā)現(xiàn)單個(gè)或成群的古代墓葬。
